ОБОРУДОВАНИЕ / SCHNEIDER GROUP
Электронная микроскопия и анализ поверхности
Выберите подгруппу или подходящее оборудование.
Двухлучевые электронные микроскопы
Открыть подгруппу ↗
Микроскоп Aquilos 2 Cryo-FIB
Двухлучевые электронные микроскопы
Микроскоп Arctis Cryo-Plasma-FIB
Двухлучевые электронные микроскопы
Микроскоп ExSolve WTP DualBeam
Двухлучевые электронные микроскопы
Микроскоп Helios 5 DualBeam
Двухлучевые электронные микроскопы
Микроскоп Helios 5 DualBeam (EXL, PFIB, PFIB Laser)
Двухлучевые электронные микроскопы
Микроскоп Helios 6 FIB-SEM (HD, HX)
Двухлучевые электронные микроскопы
Микроскоп Helios Hydra 5 PFIB-SEM
Двухлучевые электронные микроскопы
Микроскоп Scios 3 FIB-SEM
Двухлучевые электронные микроскопы
Настольные электронные микроскопы
Открыть подгруппу ↗
Просвечивающие электронные микроскопы
Открыть подгруппу ↗
Сканирующие электронные микроскопы
Открыть подгруппу ↗
FOCUS PEEM Фотоэмиссионный электронный микроскоп
Сканирующие электронные микроскопы
NanoSAM. Оже-спектроскопия, нанозонд
Сканирующие электронные микроскопы
Микроскоп Apreo ChemiSEM System
Сканирующие электронные микроскопы
Микроскоп Apreo 2 SEM
Сканирующие электронные микроскопы
Микроскоп Axia ChemiSEM System
Сканирующие электронные микроскопы
Микроскоп Prisma E SEM
Сканирующие электронные микроскопы
Микроскоп Quattro ESEM
Сканирующие электронные микроскопы
Микроскоп Verios 5 XHR SEM
Сканирующие электронные микроскопы
Микроскоп VolumeScope 2 SEM
Сканирующие электронные микроскопы