Сканирующие электронные микроскопы

Сканирующие электронные микроскопы (СЭМ) — это экспертные системы для исследования топографии и элементного состава материалов с разрешением до нанометров. Благодаря исключительной глубине резкости и возможности проведения микроанализа, они позволяют детально изучать морфологию поверхности и внутреннюю структуру образцов в науке и промышленности.