Микроскоп Quattro ESEM
Электронная микроскопия и анализ поверхности / Сканирующие электронные микроскопы

Микроскоп Quattro ESEM

Ультра универсальный высоко разрешающий SEM с технологией FEG и уникальной экологической средой (ESEM™), позволяющей анализировать образцы в их естественном состоянии. Высокая детализация SE и BSE изображений в любых режимах работы делает его идеальным решением для широкого спектра материалов. Поддерживает множество обнаружителей и автоматизированные функции для исследовательских и промышленных задач.

Описание оборудования

  • Принцип работы: использование полевого эмиссионного источника (FEG) для достижения разрешения до < 0,6 нм в режиме BSE и SE.
  • Уникальная функция экологического SEM (ESEM™) позволяет анализировать влажные, нагретые или живые образцы без необходимости высоковакуумной подготовки.
  • Поддержка одновременной SE/BSE визуализации и расширенная аналитика благодаря гибкому набору детекторов.
  • Особенности автоматизации: автоматическое выравнивание пучка, контроль заряда, улучшенная стабильность при длительном сканировании.
  • При необходимости можно добавить изображение прибора с другой стороны или схематичную визуализацию принципа работы (этот блок – единственный с изображением без слайдера).

Функциональность

  • Анализ влажных, органических, живых образцов без металлизации.
  • Одновременное SE/BSE изображение для расширенного контраста.
  • Автоматическое выравнивание и компенсация заряда.
  • Высота фокусного расстояния до 10 мм.
  • Расширенные режимы работы при низком давлении.

Преимущества

  • Принцип работы: FEG‑источник, режим ESEM
  • Программное обеспечение: ChemiSEM, Maps‑3, Avizo и т. д.
  • Массогабаритные характеристики: вес, габариты
  • Условия эксплуатации: рабочие вакуумные режимы, температура
  • Комплектация: базовая + опциональное оборудование
  • Прочее: требования к подготовке образцов, совместимость с аксессуарами

Особенности

  • Интегрированное ПО Thermo Fisher ChemiSEM™
  • Поддержка Avizo/MAPs‑3, AutoScript
  • Возможность подключения EBSD/CL/STEM модулей
  • Опциональные модули STEM‑ и CL‑детекторов согласно задачам