FOCUS PEEM Фотоэмиссионный электронный микроскоп
Электронная микроскопия и анализ поверхности / Сканирующие электронные микроскопы

FOCUS PEEM Фотоэмиссионный электронный микроскоп

Сферы применения:

Наука и образование
Энергетика
Химическая промышленность
Горно-металлургическая промышленность
Электроника

Фотоэмиссионный электронный микроскоп используется для получения изображений магнитного контраста, а также топографической и химической томографии в высоком разрешении. Отображает излучающую фотоэлектроны поверхность образца в режиме реального времени, без сканирования.

Описание оборудования

Фотоэмиссионная электронная микроскопия (PEEM) является чрезвычайно мощным методом, универсальность которого для получения изображений магнитного контраста, а также топографической и химической томографии в высоком разрешении была продемонстрирована во многих экспериментах, проводимых на синхротроне и в лабораторных условиях. Детальная характеризация магнитных устройств, исследование плазмонов, химия поверхности и химический анализ с высоким латеральным разрешением в сочетании с синхротронным излучением, исследование процессов с разрешением во времени и томография k-пространства — лишь несколько примеров использования PEEM. В отличие от сканирующего электронного микроскопа (SEM), PEEM отображает излучающую фотоэлектроны поверхность образца в режиме реального времени, без сканирования. Эмиссия электронов с поверхности образца может быть вызвана различными способами — облучением фотонами, термически, электронной / ионной бомбардировкой или полевой эмиссией. На протяжении многих лет FOCUS PEEM постоянно совершенствуется в производительности и удобстве использования. Конструкция FOCUS PEEM вместе с специальным интегрированным предметным столиком высокойстабильности (IS) и различными имеющимися энергетическими фильтрами подчиняется модульной концепции и легко модернизируется. Кроме того, оригинальное программное обеспечение обеспечивает эффективную и безопасную работу FOCUS PEEM даже на сложных образцах. Более чем 50 приборов, работающих по всему миру, позволяют считать FOCUS PEEM мощным инструментом анализа поверхности.

  • Поверхностно-чувствительная микроскопия
  • Латеральное разрешение 20 нм
  • Локальная спектроскопия
  • Томография k-пространства
  • Удобен в работе
  • Совместим с MULTIPROBE системами сверхвысокого вакуума компании ScientaOmicron
  • Продукт компании FOCUS