Микроскоп Prisma E SEM
Электронная микроскопия и анализ поверхности / Сканирующие электронные микроскопы

Микроскоп Prisma E SEM

Сферы применения:

Нефтяная отрасль
Горно-металлургическая промышленность
Химическая промышленность
Наука и образование
Криминалистика
Строительная индустрия
Фармацевтика
Пищевая отрасль
Энергетика
Экология

Универсальный высокопроизводительный сканирующий электронный микроскоп с вольфрамовым (W) источником и режимом environmental SEM (ESEM™), позволяющим исследовать влажные, пыльные и газовыделяющие образцы без специальной подготовки. Поддержка ColorSEM Technology обеспечивает отображение химического состава прямо на SEM-изображении в режиме live quantification, упрощая анализ и ускоряя принятие решений.

Описание оборудования

В Prisma E применяется универсальная колонна с дифференциальной откачкой через линзу, обеспечивающая стабильное высокое разрешение: 3.0 нм при 30 кВ независимо от вакуумного режима (высокий вакуум, низкий вакуум и ESEM) и 7.0 нм при 3 кВ с активацией функции beam deceleration (режим BD). Камера размером 340 мм в ширину, с 12 портами, позволяет устанавливать до 3 детекторов EDS одновременно, два из которых расположены под углом 180° — идеальное решение для аналитического многомодального анализа. Возможна coplanar конфигурация EDS/EBSD и интеграция WDS и Raman датчиков. Простой интерфейс с функцией User Guidance и Undo/Redo облегчает работу начинающим пользователям, а расширенные режимы SmartSCAN, Nav Cam™ и автоматические сценарии ускоряют анализ для опытных команд. Поддержка ESEM режима позволяет работать с образцами при давлении до 2600 Па (H₂O) или 4000 Па (N₂), минимизируя подготовку и позволяя исследовать органические, влажные или нагретые материалы in-situ.

Функциональность

  • ColorSEM Technology — живое цветовое отображение состава на SEM изображении в реальном времени, без пауз для EDS-сканирования.
  • SmartSCAN Imaging: сканирование с накоплением кадров, интеграцией строк и интерлейсингом для повышения четкости при высоком шуме и минимизации артефактов.
  • Nav-Cam™ и автонavigation: быстрое перемещение между множеством проб без остановки эксперимента, упрощённый выбор областей интереса маркером камеры.
  • Работа в любых режимах: SE и BSE изображения одновременно во всех вакуумных режимах, включая ESEM для аутгазящих или влажных образцов.

Преимущества

  • Принцип работы: Tungsten источник, дифференциальная откачка через линзу, ESEM режим
  • Программное обеспечение: ColorSEM, Maps 3, AutoScript 4, Avizo, TopoMaps
  • Массогабариты и камера: внутренняя ширина 340 мм, 12 портов, 5‑осевая платформа 110×110 мм (наклон до 105°), max образец 5 кг
  • Условия эксплуатации: 200 В–30 кВ ускоряющее напряжение, вакуум до ESEM режимов (до 2600–4000 Па)
  • Комплектация: стандартные ETD,LVD, GSED, IR‑камера; опционально Nav‑Cam+, DBS, STEM 3+, EDS, EBSD, WDS, CL, EBIC
  • Прочие функции: автоматизированные сценарии, live‑анализ, навигация, beam deceleration, Peltier/нагревательные стадии

Особенности

  • Всегда включённый EDS: live Колоризация SEM-изображений с элементарным составом
  • Гибкие режимы вакуумирования для работы с типами образцов, требующих минимальной подготовки
  • Возможность использования до 3 EDS-детекторов одновременно для ускоренного анализа
  • Поддержка расширений: EBSD, WDS, STEM 3+, WetSTEM, CL, Raman и др
  • Удобное управление пользователем благодаря Nav‑Cam, сценариям и отмене действий