Микроскоп Phenom XL G2
Электронная микроскопия и анализ поверхности / Настольные электронные микроскопы

Микроскоп Phenom XL G2

Сферы применения:

Наука и образование
Горно-металлургическая промышленность
Строительная индустрия
Электроника
Химическая промышленность

Настольный СЭМ для крупногабаритных образцов

Phenom XL G2 — уникальный настольный СЭМ Thermo Scientific с увеличенной рабочей камерой, принимающей образцы до 100 × 100 мм без разрезания. Оснащён улучшенным BSE-детектором нового поколения с расширенным полем захвата.

Технические характеристики: рабочая область 150 × 100 мм, разрешение 14 нм при 15 кВ, увеличение ×80 – ×100 000, ускоряющее напряжение 5–15 кВ, режимы BSE с азимутальным контрастом и EDS.

Применение

Металлургия, геология, строительная индустрия и аэрокосмическое производство, где требуется анализ нестандартных образцов: ударные шлифы, сечения сварных швов, буровые керны, печатные платы.