
Электронная микроскопия и анализ поверхности / Настольные электронные микроскопы
Микроскоп Phenom XL G2
Сферы применения:
Настольный СЭМ для крупногабаритных образцов
Phenom XL G2 — уникальный настольный СЭМ Thermo Scientific с увеличенной рабочей камерой, принимающей образцы до 100 × 100 мм без разрезания. Оснащён улучшенным BSE-детектором нового поколения с расширенным полем захвата.
Технические характеристики: рабочая область 150 × 100 мм, разрешение 14 нм при 15 кВ, увеличение ×80 – ×100 000, ускоряющее напряжение 5–15 кВ, режимы BSE с азимутальным контрастом и EDS.
Применение
Металлургия, геология, строительная индустрия и аэрокосмическое производство, где требуется анализ нестандартных образцов: ударные шлифы, сечения сварных швов, буровые керны, печатные платы.




