Микроскоп Phenom ParticleX (серия)
Сферы применения:
Специализированные настольные СЭМ для анализа частиц
Серия Phenom ParticleX — автоматизированные настольные сканирующие электронные микроскопы Thermo Scientific для автоматического обнаружения, классификации и анализа частиц в промышленных и научных приложениях. Каждая модель оптимизирована под конкретную область.
Модели серии
ParticleX TC (Total Contamination) — контроль загрязнений в производственных процессах. Автоматически обнаруживает и классифицирует частицы-загрязнители на поверхностях и фильтрах. Критически важен в производстве HDD, фармацевтике и аэрокосмической промышленности.
ParticleX AM (Additive Manufacturing) — контроль качества металлических порошков в аддитивном производстве: морфология, размер и состав частиц по стандартам ASTM.
ParticleX GSR (Gunshot Residue) — криминалистическая идентификация остатков выстрела по морфологическим и химическим критериям в соответствии со стандартами ASTM/EN.
ParticleX Steel — автоматический анализ включений в стали и сплавах согласно ASTM E45 и ISO 4967.
ParticleX (базовая) — универсальная система с настраиваемыми протоколами для задач заказчика.
Принцип работы
Полностью автоматическое сканирование заданной области, обнаружение частиц, EDS-анализ каждой частицы и статистический отчёт по заданным критериям классификации.