Электронная микроскопия и анализ поверхности / Двухлучевые электронные микроскопы
Микроскоп Scios 3 FIB-SEM
Сферы применения:
Двухлучевая система для материаловедения
Scios 3 FIB-SEM — двухлучевой электронный микроскоп Thermo Scientific, оптимизированный для широкого спектра материаловедческих задач. Система сочетает высокое разрешение СЭМ с точным галлиевым FIB, обеспечивая универсальное решение для анализа, препарирования образцов и нанофабрикации.
Scios 3 оснащён колонной СЭМ с холодным полевым катодом для высокого разрешения в широком диапазоне ускоряющих напряжений. Поддержка EDS-анализа, EBSD-картирования кристаллографической текстуры, катодолюминесценции.
Применение
Подготовка ПЭМ-образцов, 3D-реконструкция микроструктуры, анализ отказов, исследование покрытий и тонких плёнок, изучение коррозии металлов и сплавов, анализ горных пород и минералов.